回上層

線上課程

利用SAS EM 進行半導體製程優化

 

章節 簡介 錄影連結
第一講

   找出可疑問題站點與機台

.認識資料採礦流程SEMMA
.K-w檢定
.集群分析
.圖形勘查
.區段特徵描繪

第一講課程錄影
第二講

   運用生產參數預測晶圓好壞

.資料分割
.變數轉換與互動式等距分箱
.建立預測模型
  -回歸
  -類神經
  -決策樹CART
  -決策樹CHAID
.模型比較

第二講課程錄影

回上層